Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Označení:
ČSN EN 60444-9 (35 8490)
Datum vydání:1.9.2007
Katalogové číslo:79459
Dostupná provedení: Anglicky (v českém jazyce pouze titulní strana) - Tištěné (223.00 CZK)
Anotace normy:
Norma popisuje dvě metody pro stanovení parametrů parazitních rezonancí krystalových jednotek. Proti předchozím metodám jsou přesnější a zlepšila se schopnost reprodukovatelnosti měření.
Předchozí metody popsané v IEC 60283 (1968) byly založeny na použití měřicího můstku, který používá méně komerčně dostupné součástky, jako jsou proměnné rezistory a hybridní transformátory.
Metoda A (přímé určování parametrů)
Metoda určení náhradních elektrických parametrů dovoluje stanovit též parametry parazitních rezonancí. Je založena na metodách popsaných v IEC 60444-5 a používá stejné měřicí zařízení. Přednostně se používá pro měření parazitních rezonancí, které mají nízkou a střední impedanci, až do několika kiloohmů.
Metoda B (určování rezistance)
Tato metoda by měla být používána pro měření parazitních rezonancí, které mají vysokou impedanci, tak jak je to specifikováno pro některé krystalové jednotky osazované v krystalových filtrech. Používá se stejné testovací zařízení, jako u metody A ve spojení se zkušebním měřicím přípravkem, který se skládá z komerčně dostupných mikrovlnných součástek, hybridního vazebního členu (180°) a atenuátoru (10 dB), které jsou přesně definovány pro prostředí 50 ohmů. Tato metoda je zlepšením proti zastaralé referenční metodě uvedené v IEC 60283
20
Mám zájem o normu ČSN EN 60444-9 (35 8490) 1.9.2007