01.09.2007
Měření parametrů křemenných krystalových jednotek - Část 9: Měření vedlejších (parazitních) rezonancí piezoelektrických krystalových jednotek. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
79459
8590963794594
Norma popisuje dvě metody pro stanovení parametrů parazitních rezonancí krystalových jednotek. Proti předchozím metodám jsou přesnější a zlepšila se schopnost reprodukovatelnosti měření. Předchozí metody popsané v IEC 60283 (1968) byly založeny na použití měřicího můstku, který používá méně komerčně dostupné součástky, jako jsou proměnné rezistory a hybridní transformátory. Metoda A (přímé určování parametrů) Metoda určení náhradních elektrických parametrů dovoluje stanovit též parametry parazitních rezonancí. Je založena na metodách popsaných v IEC 60444-5 a používá stejné měřicí zařízení. Přednostně se používá pro měření parazitních rezonancí, které mají nízkou a střední impedanci, až do několika kiloohmů. Metoda B (určování rezistance) Tato metoda by měla být používána pro měření parazitních rezonancí, které mají vysokou impedanci, tak jak je to specifikováno pro některé krystalové jednotky osazované v krystalových filtrech. Používá se stejné testovací zařízení, jako u metody A ve spojení se zkušebním měřicím přípravkem, který se skládá z komerčně dostupných mikrovlnných součástek, hybridního vazebního členu (180°) a atenuátoru (10 dB), které jsou přesně definovány pro prostředí 50 ohmů. Tato metoda je zlepšením proti zastaralé referenční metodě uvedené v IEC 60283