Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
1.12.2003
Katalogové číslo:68968
Dostupná provedení:Tato část normy IEC 60749 je vhodná pro polovodičové součástky (diskrétní součástky a integrované obvody). Předmětem této zkušební metody je určit rychlost úniku pro polovodičové součástky.
Tato zkouška je identická se zkouškou obsaženou v článku 5, kapitoly 3, IEC 60749 (1996), změně 2, nehledě na doplněk tohoto článku a článku 2 a následující přečíslování.
44
Mám zájem o normu ČSN EN 60749-8 (35 8799) 1.12.2003