Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Označení:
ČSN EN 62373 (35 8767)
Datum vydání:1.3.2007
Katalogové číslo:78056
Dostupná provedení: Anglicky (v českém jazyce pouze titulní strana) - Tištěné (350.00 CZK)
Anotace normy:
Tato norma uvádí zkušební postupy pro zkoušení stability tranzistorů řízených polem (MOSFET) při kombinovaném namáhání napětím a teplotou.
Při dlouhodobém namáhání zvýšenou teplotou a napětím G-S dochází k degradaci MOSFET, klesá saturační proud a vzrůstá absolutní hodnota prahového napětí.
Zaváděná IEC 62373 představuje celkem 27 stran anglického a francouzského textu.
32
Mám zájem o normu ČSN EN 62373 (35 8767) 1.3.2007